Sun eröffnet weltweit erstes RFID- und Sensor-Testlabor

Sun Microsystems kündigt die Verschmelzung seines RFID-Testcenters mit dem Sun Advanced Product Testing Labor (APT) an, welches das Verhalten von RFID- und Sensor-Lösungen unter extremen Umweltbedingungen analysiert.

Die Integration des RFID-Testcenters in das in Colorado ansässige Sun APT Lab eröffne Kunden die Möglichkeit, die Auswirkungen von Variablen wie Hitze und Kälte, Erschütterung und Schwingung, Luftfeuchtigkeit, Einsatzhöhe und Druck auf RFID- und Sensortechniken zu testen. Das Sun RFID-Testcenter sei bisher bereits von Unternehmen in Anspruch genommen worden, um Tausende von RFID- und Sensor-Installationen zu simulieren und auf deren Praxistauglichkeit, Interoperabilität und Erfüllung von Industriestandards zu prüfen.

Die in Longmont, Colorado neu entstandene Einrichtung unter dem Namen „Sun Advanced Product Testing Lab for RFID and Sensors“ vereint somit laut eigenen Angaben als weltweit einzige seiner Art die Untersuchung von Umwelteinflüssen mit der Prüfung von Interoperabilität und Erfüllung von Industriestandards auf dem Gebiet von RFID- und Sensortechniken.

Weitergehende Informationen zu den RFID-Lösungen von Sun sowie dem Sun ATP Lab für RFID und Sensoren sind unter http://www.sun.com/rfid verfügbar.

Bei tecChannel.de finden Sie ausführliche Grundlagen-Beiträge zu RFID, beispielsweise den Artikel „RFID - Die technischen Gundlagen“. (mec)

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